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催化劑在工業(yè)生產(chǎn)中具有舉足輕重的地位，其活性和選擇性直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。因此，對催化劑的活性進行準確測試和表征具有重要意義。近年來，基于原位樣品桿的催化劑活性測試及表征方法逐漸成為研究熱點，為催化劑的篩選、優(yōu)化和應用提供了有力支持。一、特點它是一種特殊的樣品桿，可以在反應條件下對催化劑進行實時測試和表征。其主要特點如下：1.反應條件模擬：可以模擬實際反應條件，如溫度、壓力、氣氛等，使測試結果更接近實際情況。2.實時監(jiān)測：可以實現(xiàn)對催化劑活性的實時監(jiān)測，為催化劑的優(yōu)...

全電動二維材料轉(zhuǎn)移臺2DTrans-ams-03，是專為解決手動轉(zhuǎn)移過程中由手的抖動帶來的這一不良結果，并充分還原手動轉(zhuǎn)移過程中的手感與操作方式，給予更好的準確度和掌控性。同時也是一款專為手套箱環(huán)境設計的二維材料轉(zhuǎn)移臺，用于解決水氧敏感材料的轉(zhuǎn)移痛點。并且還是一款專為轉(zhuǎn)移“魔角”樣品而設計的二維材料轉(zhuǎn)移臺。

掃描電鏡中的電子束對樣品有幾方面的影響：1.表面充電效應：您已經(jīng)正確地指出了使用導電性樣品支撐或涂層，以及在樣品表面鍍覆導電材料可以減少表面充電效應。此外，還可以通過調(diào)整掃描電鏡的工作模式（如使用環(huán)境掃描電子顯微鏡，它允許在較高壓力下工作，從而減少充電效應）來減輕這一問題。2.樣品損傷：降低電子束的能量和減少暴露時間確實是減少樣品損傷的有效方法。此外，還可以通過優(yōu)化掃描模式（例如，使用快速掃描和慢速采集的組合）來減少樣品受到的輻射劑量。3.放射性偽影：您提到的使用低加速電壓和...

原位多場耦合樣品桿的使用涉及一系列精細的步驟和操作，以下是其使用的基本流程：一、準備工作樣品準備：根據(jù)實驗需求，選擇合適的樣品，并確保其尺寸和形狀與樣品桿兼容。設備檢查：檢查原位多場耦合樣品桿及其附件是否完好無損，確保無松動或損壞的部件。環(huán)境準備：確保實驗環(huán)境干凈、無塵，以減少對樣品的污染。二、安裝與調(diào)試安裝樣品：將準備好的樣品固定在樣品桿上，確保樣品穩(wěn)定且位置準確。連接設備：將樣品桿連接到電鏡或其他分析設備上，確保連接穩(wěn)固、無松動。調(diào)試與校準：根據(jù)設備說明書，對原位多場耦合...

隨著科學技術的發(fā)展，各類法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場證據(jù)的微觀分析對偵破案件的重要性日益增強。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫(yī)和犯罪現(xiàn)場搜證方面有巨大的應用價值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18臺式掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無法識別的細微痕跡，為警方提供詳盡而關鍵的物證，科學地偵破許多看似復雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18臺式掃描電鏡可以通過人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測現(xiàn)場殘留物，如...

ZEM18作為澤攸科技自主研發(fā)的高分辨臺式掃描電子顯微鏡，在半導體領域有著廣泛的應用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面，可以清晰展現(xiàn)出微小劃痕、顆粒污染等各類缺陷情況。根據(jù)圖像結果判斷缺陷源頭，以優(yōu)化制程，提高生產(chǎn)良率?！竟饪坦に嚈z測】使用ZEM18電鏡可以在微米量級直接刻畫光刻膠層的側壁形貌及斷口形態(tài)。幫助評估光刻質(zhì)量與曝光量效應，優(yōu)化曝光量設置。【金屬互連觀測】ZEM18高倍成像可以清晰展現(xiàn)芯片互連結構中的空隙缺陷、線邊斷裂情況，有助于...

澤攸科技JS系列高精度臺階儀是一款先進的自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀，采用了先進的掃描探針技術。通過掃描探針在樣品表面上進行微觀測量，臺階儀能夠準確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力，通過測量探針的微小位移，實現(xiàn)對表面高度差異的檢測。其性能特點包括：1.高精度：臺階儀可實現(xiàn)納米級別的測量，能夠揭示微觀結構的細節(jié)和特征。2.大行程超精密平面掃描：具備70mm的大行程，優(yōu)于20nm/2mm，能夠高效地獲取表面形貌數(shù)據(jù)。3.大帶寬大行程納米微動臺：擁有80um的大行...

近年來，中國科技創(chuàng)新實力逐漸嶄露頭角，而在電子顯微鏡領域，澤攸科技（ZEPTOOLS）的ZEM系列臺式掃描電鏡正促進行業(yè)的新風向。自2019年10月16日在全國電子顯微學會年會上展示了國內(nèi)自主研發(fā)的國產(chǎn)臺式掃描電鏡ZEM15以來，該系列掃描電鏡憑借其出色的性能和自主研發(fā)的技術特色，逐漸在國內(nèi)外市場上贏得了廣泛認可和青睞。ZEM15臺式掃描電鏡展會現(xiàn)場ZEM系列臺式掃描電鏡的問世標志著中國在電子顯微鏡領域邁出了重要的一步。作為全球電鏡市場上的新興科技品牌，澤攸科技不僅僅是帶來了...